Фотометр микропланшетный Sunrise (без экрана, 4 фильтра, 405, 450, 492, 620 нм), управление с внешнего компьютера) - Полуавтоматические ИФА анализаторы

Спасение человеческих жизней – это самое важное, благородное и доброе дело, которое только можно себе представить, и мы гордимся тем, что имеем возможность участвовать в этом труде!

Артикул: 16039400-RC4-f
Tecan
Tecan Austria GmbH, Австрия
Задать вопрос

Микропланшетный Фотометр Sunrise

Sunrise – прибор для автоматического измерения оптической плотности (поглощения света) образцов в 96-ти луночных микропланшетах. Превосходные оптические характеристики, основанные на новой концепции дизайна EPAC, и высокое качество ридера Sunrise гарантируют быстрые, воспроизводимые и точные измерения.

Опции для Sunrise

  • Touchscreen (сенсорный экран) вместе со встроенным программным обеспечением на основе Windows CE.
  • Сканирующий градиентный фильтр (для выбора произвольной длины волны в диапазоне 400 - 700 нм).
  • Инкубатор с регулированием температуры.
  • Сканер штрих-кодов.

Основные преимущества

  • Модульность, возможность создать собственный прибор, точно отвечающий потребностям вашей лаборатории.
  • Высокая скорость. Прибор одновременно анализирует 12 лунок и способен измерять весь микропланшет приблизительно за шесть секунд.
  • В фотометре Sunrise предусмотрено несколько режимов измерения.
  • Мощное программное обеспечение Magellan позволяет обрабатывать результаты качественных и количественных анализов, делать нелинейные аппроксимации экспериментальных данных и рассчитывать различные показатели на их основе.
  • Гарантия на ридер Sunrise составляет 3 года.
  • Может встраиваться в роботизированные станции Tecan.

Области применения

Автоматический микропланшетный фотометр Sunrise применяется в медицине, ветеринарии, на биотехнологическом и пищевом производстве, в научно-исследовательских лабораториях и фармацевтических предприятиях.

Технические характеристики

ПараметрыХарактеристики прибора
Диапазон измеренийОт 340 до 399 нм: от 0 до 3,0 ед. ОП; от 400 до 750 нм: от 0 до 4,0 ед. ОП
Время измерения

На одной длине волны: 6 секунд

На двух длинах волн: 8 секунд

Кинетический интервал: 5 секунд

Разрешение0,001 ед. ОП
Виды измеренийОднократное, кинетическое и измерение на 3 и более длинах волн
Выбор длины волныИнтерференционные фильтры (картридж на 4 или 6 фильтров) с полосой пропускания 10 нм
Встроенный шейкерНаличие
Программное обеспечениеMAGELLAN (русскоязычное)
Сканер штрих-кодовРучной*
Встроенный инкубаторНаличие

Точность
От 0 до 2,0 ед. ОП/492 нм:
От 2,0 до 3,0 ед. ОП/492 нм:

≤ ± (1,0% + 0,010 ед. ОП)
≤ ± (1,5% + 0,010 ед. ОП)

* опция, поставляется за дополнительную плату

Вернуться к списку